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1 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.3 低温工作寿命检测
2 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.7 低温读写
3 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.6 常温读写＋保存数据退化及只读检测
4 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.6 性能检测
5 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.10 无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)
6 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.1 早夭期寿命检测
7 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.13 温度循环检测（TC）
8 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.8 湿敏等级检测
9 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.10.2 芯片的 DPI 传导抗扰度
10 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.10.3 芯片的 EFT 传导抗扰度
11 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.10.4 芯片的 PESD 传导抗扰度
12 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.10.1 芯片辐射电场抗扰度
13 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.16 闩锁检测（Latch-up）
14 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.4 静态高温长时间保存下数据退化检测
15 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分：高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.14 静电放电-人体模型检测（ESD-HBM）
