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检测标准：
1 光学和光学仪器 环境试验方法第5部分：低温、低气压综合试验 GB/T 12085.5-2010 低气压试验
2 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验M：低气压 GB/T 2423.21-2008 低气压试验
3 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/AM：低温/低气压综合试验 GB/T 2423.25-2008 低气压试验
4 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/BM：高温/低气压综合试验 GB/T 2423.26-2008 低气压试验
5 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验 GB/T 2423.27-2005 低气压试验
6 环境试验 第2部分：试验方法试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验 GB/T2423.27-2020 低气压试验
7 电工电子产品环境试验 温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.15-2008 低气压试验
8 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压GB/T 4937.2-2006 低气压试验
9 机载悬挂装置试验方法 GJB1063-1991 低气压试验
10 机载悬挂装置试验方法 GJB 1063A-20086.19 低气压（高度）试验 低气压试验
11 军用装备实验室环境试验方法 第2部分低气压（高度）试验 GJB 150.2-1986 低气压试验
12 军用装备实验室环境试验方法 第2部分低气压（高度）试验 GJB 150.2A-2009 低气压试验
13 技术侦察装备通用技术要求第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 低气压试验
14 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 低气压试验
15 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 低气压试验
